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薄壁金屬結(jié)構(gòu)因其在航天和汽車工業(yè)中的廣泛應(yīng)用而備受關(guān)注，尤其是在能量吸收裝置方面。通過優(yōu)化單元胞的形狀和排列，這些結(jié)構(gòu)能夠顯著提升沖擊衰減和能量吸收能力。近年來，隨著金屬增材制造（AM）技術(shù)的發(fā)展，尤其是金屬熔融沉積建模（FDM）技術(shù)的進(jìn)步，復(fù)雜薄壁金屬結(jié)構(gòu)的制造變得更加高效和靈活。金屬FDM技術(shù)通過打印、脫脂和燒結(jié)三個(gè)主要步驟實(shí)現(xiàn)復(fù)雜金屬結(jié)構(gòu)的制造，其優(yōu)勢在于避免了金屬熔化過程中可能出現(xiàn)的元素宏觀和微觀偏析缺陷，同時(shí)降低了制造成本并減少了打印難度。此外，由于金屬粉末被粘合劑...

鐵電半導(dǎo)體材料因其可切換的自發(fā)極化特性和非易失性存儲(chǔ)能力，對于開發(fā)新型低功耗電子器件和非易失性記憶體具有巨大的潛力。這些材料能夠通過外部電場來調(diào)控其宏觀極化特性，從而影響載流子傳輸性能。然而，要在同一薄膜材料中同時(shí)實(shí)現(xiàn)強(qiáng)大的鐵電性質(zhì)和優(yōu)異的半導(dǎo)體特性卻是一個(gè)巨大的挑戰(zhàn)。錫（Sn）基鈣鈦礦半導(dǎo)體近年來受到了廣泛關(guān)注，這主要?dú)w因于它們的p型特性、較低的載流子有效質(zhì)量以及高遷移率。但是，由于這類材料通常具有較高的載流子濃度，內(nèi)部電場無法被有效屏蔽，導(dǎo)致鐵電極化減弱或消失，使得在Sn...

掃描電鏡（ScanningElectronMicroscope,SEM）作為現(xiàn)代科學(xué)研究的重要工具，憑借其高分辨率、大景深和強(qiáng)大的綜合分析能力，在材料科學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域發(fā)揮著不可替代的作用。本文將深入解析SEM的工作原理、核心優(yōu)勢、應(yīng)用場景及樣品制備要點(diǎn)，帶您全面了解這一微觀世界的“透視眼”。一、掃描電鏡（SEM）的工作原理與核心構(gòu)造1.電子束與物質(zhì)的相互作用掃描電鏡的核心原理基于高能電子束與樣品表面的相互作用。當(dāng)電子槍發(fā)射的電子束經(jīng)加速和聚焦后，以納米級直徑掃描樣品表...

隨著全球節(jié)能減排和環(huán)保要求的日益提高，輕質(zhì)、高強(qiáng)度的鎂合金材料因其優(yōu)異的綜合性能而受到廣泛關(guān)注。鎂合金以其低密度、高比強(qiáng)度和良好的生物相容性等特點(diǎn)，在航空航天、汽車制造、電子通訊等領(lǐng)域展現(xiàn)出巨大的應(yīng)用潛力。然而，純鎂的強(qiáng)度和硬度較低，限制了其在更廣泛領(lǐng)域的應(yīng)用。為了提高鎂合金的性能，顆粒增強(qiáng)金屬基復(fù)合材料成為了研究的熱點(diǎn)。SiC顆粒因其熱膨脹系數(shù)小、耐磨性好、硬度高及抗氧化性強(qiáng)等特點(diǎn)，且不會(huì)與Mg形成穩(wěn)定的化合物，被廣泛用于鎂合金的增強(qiáng)相。SiC顆粒與AZ91D鎂合金結(jié)合，不...

掃描電子顯微鏡分析是掃描電子顯微鏡（ScanningElectronMicroscopy）分析的簡稱。這種光譜技術(shù)是一種高分辨率表面成像形式，運(yùn)用了光學(xué)顯微鏡原理。掃描電子顯微鏡分析通過聚焦電子束掃描測試樣本，以生成其表面的高分辨率圖像。掃描電子顯微鏡分析快速、無損且極為精確，是當(dāng)下常用的高分辨率表面成像技術(shù)之一，對了解樣本表面形貌與成分至關(guān)重要。掃描電子顯微鏡分析如何運(yùn)作？掃描電子顯微鏡運(yùn)用真空室，防止顯微鏡鏡筒內(nèi)既有分子和原子與電子束相互作用而致使圖像失真，以此保障成像的...

在眾多工業(yè)生產(chǎn)與科學(xué)研究場景中，精確測量物體表面的粗糙度和輪廓是一項(xiàng)至關(guān)重要的任務(wù)。而臺(tái)階儀，作為專業(yè)的測量儀器，在這一領(lǐng)域發(fā)揮著不可替代的關(guān)鍵作用。本文將全面深入地介紹臺(tái)階儀，涵蓋其定義用途、工作原理、類型特點(diǎn)等方面，為您呈現(xiàn)關(guān)于臺(tái)階儀的詳細(xì)知識畫卷。一、臺(tái)階儀的定義與用途臺(tái)階儀，英文名為Profilometer，是專門用于測量物體表面輪廓和表面光潔度（表面粗糙度）的儀器。在微觀層面觀察，物體表面實(shí)則是由一系列高度、深度以及間距各不相同的峰谷所構(gòu)成。這些看似細(xì)微的特征差異，...

掃描電子顯微鏡（SEM）是一種利用電子束掃描樣品表面，通過檢測產(chǎn)生的信號來獲取樣品表面形貌和成分等信息的高分辨率顯微鏡。本文將對SEM的基本原理、優(yōu)勢、應(yīng)用領(lǐng)域以及操作時(shí)的注意事項(xiàng)進(jìn)行詳細(xì)解讀。1.SEM技術(shù)概述SEM通過電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的信號，如二次電子和背散射電子，來構(gòu)建樣品表面的圖像。這種顯微鏡能夠提供納米級別的高分辨率圖像，并具備較大的景深，使得樣品的三維形貌得以清晰展示。1.1工作原理SEM的工作原理類似于在暗室中使用手電筒掃描物體。電子束代替手電筒，電子探...

液體樣品分析在化學(xué)、生物、環(huán)境、食品等多個(gè)領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。為了確保分析結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性，質(zhì)量控制是分析過程中不可忽視的重要環(huán)節(jié)。一、樣品采集與儲(chǔ)存樣品采集：液體樣品的采集應(yīng)遵循代表性、均勻性和可追溯性的原則。采樣容器應(yīng)選擇適當(dāng)?shù)牟馁|(zhì)，以避免樣品在運(yùn)輸和儲(chǔ)存過程中受到污染或發(fā)生化學(xué)變化。樣品儲(chǔ)存：樣品儲(chǔ)存過程中應(yīng)嚴(yán)格控制溫度、濕度和光照等條件，防止樣品發(fā)生降解、變質(zhì)或受潮。同時(shí)，應(yīng)定期檢查樣品的完好性和穩(wěn)定性，確保樣品在分析前保持原始狀態(tài)。二、樣品預(yù)處理樣品凈化：對于含...